Sie befinden sich hier: / Startseite
Tieftemperatur-Versuchsanlagen und Materialprüfkammern

Entwicklung von innovativen Materialprüfkammern
Im Rahmen eines Kooperationsprojekts mit einem Industriepartner wurde eine Hochleistungsmaterialprüfkammer entwickelt und gebaut, die im Temperaturbereich von −180 °C bis +200 °C eingesetzt werden kann. Es wurden verschiedene Methoden und Bauteile untersucht um Materialprüfkammern optimal an den Anwendungszweck anpassen zu können. Im Ergebnis des Projektes konnten die Vor- und Nachteile unterschiedlicher Materialien und Anlagensysteme identifiziert und bewertet werden, um einen möglichst effizienten und vor allem technisch allen Anforderungen entsprechenden Betrieb, zu gewährleisten. Diese Anforderungen betreffen:
- die örtliche und zeitliche Temperaturverteilung bzw. Temperaturstabilität im Bereich kleiner ± 1 K,
- eine gefahrlose Ver- und Entsorgung aller Medien (Kältemittel, Wärme, Elektroenergie, Abgas) und
- die flexible Gestaltung der Probengeometrie bei möglichst geringer Beeinflussung der Leistungsfähigkeit des Kammersystems bei Kühlraten von 0 bis 30 K/min.
Die Einsatzgebiete solcher Kammern liegen hauptsächlich im Bereich der Luft- und Raumfahrttechnik, aber auch im Bereich hochempfindlicher Elektronikanwendungen, welche starken thermischen Belastungen ausgesetzt sind.
Zug-Versuche bei sehr tiefen Temperaturen
Am ILK Dresden können Zugversuche bei kryognen Temperaturen bis -175°C durchgeführt weden.
- Zugkräfte bis zu 10 kN
- Probentemperatur bis zu -175°C
- Vollautomatische Temperatursteuerung und Aufheizung
- Thermisch isolierte Probenhalter, abgekühlt auf Probentemperatur
- Gleichmäßige Temperaturverteilung
- Temperaturstabilität ±1 K
- Schneller Probenwechsel bei Minimaltemperatur möglich
►Up to 10 kN of force ►Down to -175 °C sample temperature,
Temperature stable within ±1 K ►Cooling with liquid nitrogen, counter-heating with warm air ►Forces measured at room temperature
No special measurement cell needed ►Thermally insulated sample grippers
Cooled to or below sample temperature
for an even temperature distribution ►High measurement frequency: every 5 minutes at -170 °C
fast sample exchange even at cryogenic temperatures